CN
400-6181-608
English
Micro-nano Pattern Structure Measurement
*全量程粗糙度检测:亚纳米超抛光→磨砂面→摩擦磨损粗糙面,全域粗糙度一站式测试
*异质微结构形貌表征:适配高低反射共存样品,50nm 台阶孔测量,大视野替代 AFM
*大样品高精度拼接:0.01nm 重复精度,单幅 15mm 视野,最大 200mm 无缝拼接成像
*无损薄膜三维分析:透明膜分层测厚,非接触式完成样品 3D 重构,不损伤试样
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